Material analysis by SEM

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23210%2F17%3A43950104" target="_blank" >RIV/49777513:23210/17:43950104 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Materiálová analýza na ŘEM
Original language description
Na dodaných vzorcích více-fázových mikrostruktur byly provedeny metalografické analýzy s využitím řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) a dvousvazkového mikroskopu kombinujícího elektronový a iontový svazek (FIB). K charakterizaci jednotlivých fází a strukturních součástí byly použity rovněž detektor pro energiově-dispersní analýzu (EDS) a detektor pro difrakci zpětně odražených elektronů (EBSD). Pro získání prostorové představy o rozložení fází bylo využito dvousvazkového mikroskopu a postupného odstraňování povrchové vrstvy pomocí FIB.
Czech name
Materiálová analýza na ŘEM
Czech description
Na dodaných vzorcích více-fázových mikrostruktur byly provedeny metalografické analýzy s využitím řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) a dvousvazkového mikroskopu kombinujícího elektronový a iontový svazek (FIB). K charakterizaci jednotlivých fází a strukturních součástí byly použity rovněž detektor pro energiově-dispersní analýzu (EDS) a detektor pro difrakci zpětně odražených elektronů (EBSD). Pro získání prostorové představy o rozložení fází bylo využito dvousvazkového mikroskopu a postupného odstraňování povrchové vrstvy pomocí FIB.

Publication year
2017
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Similar results(10)