Experimental methods for determining properties of thin films in photovoltaic 2nd and 3rd generation
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F11%3A43897280" target="_blank" >RIV/49777513:23220/11:43897280 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Experimentální metody pro určování vlastností tenkých vrstev v oblasti fotovoltaiky II. a III. generace
Original language description
Tento příspěvek se věnuje dvěma z nejpoužívanějších experimentálních metod pro určování vlastností tenkých vrstev v oblasti fotovoltaiky 2. a 3. generace. První část tohoto příspěvku je velmi stručným úvodem do problematiky tenkovrstvé fotovoltaiky. Další část se zabývá strukturálními vlastnostmi tenkých vrstev a jejich určováním s využitím rentgenové difrakce. Poslední část příspěvku je zaměřena na určování optických vlastností metodou UV-VIS spektroskopie.
Czech name
Experimentální metody pro určování vlastností tenkých vrstev v oblasti fotovoltaiky II. a III. generace
Czech description
Tento příspěvek se věnuje dvěma z nejpoužívanějších experimentálních metod pro určování vlastností tenkých vrstev v oblasti fotovoltaiky 2. a 3. generace. První část tohoto příspěvku je velmi stručným úvodem do problematiky tenkovrstvé fotovoltaiky. Další část se zabývá strukturálními vlastnostmi tenkých vrstev a jejich určováním s využitím rentgenové difrakce. Poslední část příspěvku je zaměřena na určování optických vlastností metodou UV-VIS spektroskopie.
Classification
Type
O - Miscellaneous
CEP classification
JE - Non-nuclear power engineering, energy consumption and utilization
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2011
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů