Microscopy method for diagnosis of materials and structures in electronics
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F11%3A43899150" target="_blank" >RIV/49777513:23220/11:43899150 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Mikroskopové metody pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice
Original language description
V článku jsou prezentovány aplikace vybraných mikroskopových technik vhodných pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice. Jedná se především o studium perspektivních polovodivých, vodivých a izolačních organických materiálů a o diagnostiku součástek, propojovacích struktur a plošných spojů. Popsaná diagnostická zařízení jsou dostupná v referenční mikroskopové laboratoři Katedry technologií a měření Západočeské univerzity v Plzni.
Czech name
Mikroskopové metody pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice
Czech description
V článku jsou prezentovány aplikace vybraných mikroskopových technik vhodných pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice. Jedná se především o studium perspektivních polovodivých, vodivých a izolačních organických materiálů a o diagnostiku součástek, propojovacích struktur a plošných spojů. Popsaná diagnostická zařízení jsou dostupná v referenční mikroskopové laboratoři Katedry technologií a měření Západočeské univerzity v Plzni.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/ED2.1.00%2F03.0094" target="_blank" >ED2.1.00/03.0094: Regional Innovation Centre for Electrical Engineering (RICE)</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2011
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Volume of the periodical
56
Issue of the periodical within the volume
6
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
5
Pages from-to
170-174
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—