Analysis of composites samples using measuring electrical parameters, structural analysis and microscopy, computed tomography of IGBT modules

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F16%3A43931431" target="_blank" >RIV/49777513:23220/16:43931431 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Analýza vzorků kompozitů pomocí měření elektrických parametrů, strukturálních zkoušek a mikroskopie, počítačová tomografie IGBT modulů
Original language description
Výzkumná zpráva se zabývá analýzou vzorků EIS měřením Dynamické mechanické analýzy (DMA) a Simultánní termické analýzy (STA), měřením elektrických vlastností: částečných výbojů, ztrátového činitele a polarizačního indexu a optickým pozorováním na provedených výbrusech. Druhá část se zabývá počítačovou tomografií IGBT modulů.
Czech name
Analýza vzorků kompozitů pomocí měření elektrických parametrů, strukturálních zkoušek a mikroskopie, počítačová tomografie IGBT modulů
Czech description
Výzkumná zpráva se zabývá analýzou vzorků EIS měřením Dynamické mechanické analýzy (DMA) a Simultánní termické analýzy (STA), měřením elektrických vlastností: částečných výbojů, ztrátového činitele a polarizačního indexu a optickým pozorováním na provedených výbrusech. Druhá část se zabývá počítačovou tomografií IGBT modulů.

Publication year
2016
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Similar results(10)