All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Method of measuring total emissivity of material surfaces

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F16%3A43931018" target="_blank" >RIV/49777513:23640/16:43931018 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

    <a href="http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/306/306316.pdf" target="_blank" >http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/306/306316.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů

  • Original language description

    Totální emisivita povrchů materiálů se zjišťuje tak, že vzorek (1) umístěný v držáku (4) vzorků má na přední straně nanesen analyzovaný povlak (2). Na části analyzovaného povlaku (2) je nanesen referenční povlak (3). Referenční povlak (3) je rovněž nanesen na zadní stranu vzorku (1). Ze zadní strany vzorku (1) je prováděn laserový ohřev. Z přední strany vzorku (1), z místa analyzovaného povlaku (2) je snímán radiační tepelný tok a z přední strany vzorku (1), z místa referenčního povlaku (3) je bezkontaktně snímána povrchová teplota. Záznam radiačního tepelného toku a povrchové teploty při chladnutí vzorků umožňuje stanovit totální emisivitu analyzovaného povrchu.

  • Czech name

    Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů

  • Czech description

    Totální emisivita povrchů materiálů se zjišťuje tak, že vzorek (1) umístěný v držáku (4) vzorků má na přední straně nanesen analyzovaný povlak (2). Na části analyzovaného povlaku (2) je nanesen referenční povlak (3). Referenční povlak (3) je rovněž nanesen na zadní stranu vzorku (1). Ze zadní strany vzorku (1) je prováděn laserový ohřev. Z přední strany vzorku (1), z místa analyzovaného povlaku (2) je snímán radiační tepelný tok a z přední strany vzorku (1), z místa referenčního povlaku (3) je bezkontaktně snímána povrchová teplota. Záznam radiačního tepelného toku a povrchové teploty při chladnutí vzorků umožňuje stanovit totální emisivitu analyzovaného povrchu.

Classification

  • Type

    P - Patent

  • CEP classification

    JB - Sensors, detecting elements, measurement and regulation

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2016

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Patent/design ID

    306316

  • Publisher

    CZ001 -

  • Publisher name

    Industrial Property Office

  • Place of publication

    Prague

  • Publication country

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Date of acceptance

    Oct 19, 2016

  • Owner name

    Západočeská univerzita v Plzni

  • Method of use

    A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

  • Usage type

    A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence