All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Analysis of spectral normal emissivity of SiC coatings

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F18%3A43954558" target="_blank" >RIV/49777513:23640/18:43954558 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Analýza spektrální normálové emisivity SiC povlaků

  • Original language description

    Bylo provedeno měření spektrální normálové emisivity SiC povlaků deponovaných na grafitových substrátech na pokojové teplotě a na vysokých teplotách (od 300°C do 1000°C s teplotním krokem 100°C). Na pokojové teplotě byla emisivita měřena nepřímou metodou SNHRRT-MIR (ttp.zcu.cz/cz/laboratore/opticke-vlastnosti/metody/snhrrt), kde měřenou veličinou je odrazivost a emisivita je dopočtena podle Kirchhoffova zákona jako doplněk do 1. Na vysokých teplotách byla emisivita měřena na vzduchu přímou metodou SNEHT (ttp.zcu.cz/cz/laboratore/opticke-vlastnosti/metody/sneht) ve spektrálním rozsahu od 1.38 do 26 μm (dolní hranice závisí na teplotě, např. 2.5 μm pro teplotu 300°C). Výsledky byly zpracovány do protokolů a datových souborů pro každý vzorek a teplotu; včetně nejistoty měření.

  • Czech name

    Analýza spektrální normálové emisivity SiC povlaků

  • Czech description

    Bylo provedeno měření spektrální normálové emisivity SiC povlaků deponovaných na grafitových substrátech na pokojové teplotě a na vysokých teplotách (od 300°C do 1000°C s teplotním krokem 100°C). Na pokojové teplotě byla emisivita měřena nepřímou metodou SNHRRT-MIR (ttp.zcu.cz/cz/laboratore/opticke-vlastnosti/metody/snhrrt), kde měřenou veličinou je odrazivost a emisivita je dopočtena podle Kirchhoffova zákona jako doplněk do 1. Na vysokých teplotách byla emisivita měřena na vzduchu přímou metodou SNEHT (ttp.zcu.cz/cz/laboratore/opticke-vlastnosti/metody/sneht) ve spektrálním rozsahu od 1.38 do 26 μm (dolní hranice závisí na teplotě, např. 2.5 μm pro teplotu 300°C). Výsledky byly zpracovány do protokolů a datových souborů pro každý vzorek a teplotu; včetně nejistoty měření.

Classification

  • Type

    V<sub>souhrn</sub> - Summary research report

  • CEP classification

  • OECD FORD branch

    20506 - Coating and films

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Others

  • Publication year

    2018

  • Confidentiality

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Data specific for result type

  • Number of pages

    27

  • Place of publication

  • Publisher/client name

    Schunk Xycarb Technology

  • Version