AFM and SEM study of copper SERS-active substrates
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22340%2F08%3A00020229" target="_blank" >RIV/60461373:22340/08:00020229 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
AFM and SEM study of copper SERS-active substrates
Original language description
Surface Enhanced Raman Scattering (SERS) spectroscopy is a powerful analytical technique usually providing a Raman signal enhancement of ca 106. SERS is based on the inelastic photon scattering of molecules positioned in the proximity of a nanostructuredmetal surface. This method is widely applied to study a variety of problems in electrochemistry, surface science, material science, nanotechnology and biochemistry. In the present work, we have studied Raman enhancement in the dependence on the surfacemorphology of copper SERS-active substrates prepared in different ways, which was determined by using Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). SERS spectra of selected organic thiols were measured and the relation between SERS efficiency and the surface structure of SERS-active substrates was described.
Czech name
Charakterizace měděných SERS aktivních substrátů pomocí mikroskopie atomárních sil a skenovací elektronové mikroskopie
Czech description
Povrchem zesíleným Ramanovým rozptylem (Surface Enhanced Raman Scattering - SERS) se rozumí výrazné zesílení Ramanova rozptylu na kovových zdrsněných površích. Přeložená práce se zabývá přípravou měděných substrátů elektrochemicky katodickou redukcí. Nanostruktura povrchů takto připravených substrátů je studována pomocí mikroskopie atomárních sil a skenovací elektronové mikroskopie.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
CI - Industrial chemistry and chemical engineering
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
CD ROM konference CHISA 2008
ISBN
978-80-02-02047-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
10
Pages from-to
—
Publisher name
Czech Society of Chemical Engineering
Place of publication
Praha
Event location
Praha
Event date
Aug 24, 2008
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—