Polycrystalline Wafers of Silicalite-1 etched by HF Acid and Viewed by SEM

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F04%3A00101040" target="_blank" >RIV/61388955:_____/04:00101040 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Polycrystalline Wafers of Silicalite-1 etched by HF Acid and Viewed by SEM
Original language description
HF etching of polycrystalline silicalite-1 wafers enables to visualize grain boundaries of non-calcined crystals by dissolution of a phase between individual crystals as well as to reveal resistant shells of calcined crystals by dissolution of a crystalbulk.
Czech name
Polykrystalické vrstvy silikalitu-1 leptané kyselinou fluorovodíkovou a zobrazované elektronovým mikroskopem
Czech description
Leptání polykrystalických vrstev pomocí HF umožňuje zviditelnit hranice zrn. V případě nekalcinovaných krystalů dochází k rozpouštění mezikrystalové fáze, v případě krystalů kalcinovaných se ukazuje, že se rozpouštějí vnitřky krystalů, zatímco jejich slupky odolávají.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
CF - Physical chemistry and theoretical chemistry
OECD FORD branch
—

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)