Chemical states of electrochemically doped single wall carbon nanotubes as probed by in situ Raman spectroelectrochemistry and ex situ X-ray photoelectron spectroscopy

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F08%3A00312457" target="_blank" >RIV/61388955:_____/08:00312457 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Chemical states of electrochemically doped single wall carbon nanotubes as probed by in situ Raman spectroelectrochemistry and ex situ X-ray photoelectron spectroscopy

Original language description

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was combined with Raman spectroelectrochemistry to study the electrochemically doped states of single wall carbon nanotube (SWCNT) bundles. The ex situ measurements indicated a significant drop of doping level as compared to in situ measurements. However, after this initial decrease of the doping level, the electronic structure of SWCNT bundles was found to be stable. The XPS elemental analysis indicated that electrolyte ions penetrate into the nanotube bundles. Furthermore, for the n-doped (electrochemically reduced) sample, an increase of the relative surface concentration of different C-O groups was observed, which was caused by electrochemical reduction of ClO4- ions. Comparison of the ex situ Raman and XP spectra showed that an electrode potential shift of 1 V corresponds to the Fermi level shift of ca. 0.5 eV.

Czech name

Studium chemických stavů elektrochemicky-dopovaných jednostěnných uhlíkových nanotrubek pomocí Ramanovy spektroelektrochemie a ex situ Röntgenové fotoelektronové spektroskopie

Czech description

Shluky elektrochemicky-dopovaných jednostěnných uhlíkových nanotrubek byly studovány pomocí kombinace Röntgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) a Ramanovy spektroskopie. Ex situ měření na rozdíl od in situ měření ukázali značný pokles úrovně dopování. Nicméně, po počátečním poklesu dopování bylo zjištěno, že se elektronová struktura (úroveň dopování) shluků nanotrubek již nemění. Elementární analýza metodou XPS ukázala, že v důsledku kompenzace náboje během dopování, ionty elektrolytu pronikají doshluků nanotrubek. Kromě toho, n-dopovaný (elektrochemicky redukovaný) vzorek vykazoval nárůst relativní povrchové koncentrace C-O funkčních skupin. Tento nárust byl pravděpodobně způsoben elektrolýzou ClO4-iontů, přičemž produkty elektrolýzy modifikovaly povrch jednostěnných nanotrubek.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

CG - Electrochemistry

OECD FORD branch

—

Project

Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Journal of Physical Chemistry C

ISSN

1932-7447

e-ISSN

—

Volume of the periodical

112

Issue of the periodical within the volume

36

Country of publishing house

US - UNITED STATES

Number of pages

6

Pages from-to

—

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—