Dynamic Electronic Speckle Pattern Interferometry in Application to Measure Out-of-plane Displacement

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388998%3A_____%2F07%3A00086248" target="_blank" >RIV/61388998:_____/07:00086248 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/68407700:21220/07:02133020
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Dynamic Electronic Speckle Pattern Interferometry in Application to Measure Out-of-plane Displacement
Original language description
Electronic Speckle Patern Interferometry is used to measure out-of-plane dynamic deformations. The fast transient events were excited by an impulsive load caused by focusing high-power laser beam on the surface of a thin steel plate.
Czech name
Dymamická elektronická speklová interferometrie pro měření deformačních změn v normálovém směru
Czech description
Elektronická speklová interferometrie byla použita za účelem získání deformačního profilu. Rychlý přechodový děj byl vovolán fokusací laserového svazku na povrch tenké ocelové desky.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Result description