The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures

Result code in IS VaVaI

RIV/61389005:_____/04:00105670 - isvavai.cz

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures

Original language description

The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures

Czech name

Komplementární studie Er incorporovaného ve skleněných vrstvách určených pro optické vlnovodné struktury metodami RBS a PIXE

Czech description

Jaderné analytické metody zpětného odrazu iontů RBS a rentgenové fluorescence PIXE byly použity pro studium hloubkových profilů Er zakomponovaných do skleněných struktur metodou nízkoteplotní difůze iniciované elektrickým polem. RBS umožňuje stanovit hloubkový profil koncentrace Er s hloubkovým rozlišením 10nm a velkou citlivostí, je však omezena pozadím pocházejícím ze substrátu, proto může stanovit hloubkový profil pouze do cca 1 mikrometru. PIXE je metoda, která určuje integrální množství Er, a protosrovnáním těchto dvou metod můžeme přesněji odhadnout skutečnou hloubku, do které lze danou metodou difundovat Er. Množství Er ve skleněném substrátu je dáno difůzním časem, použitým proudem a váhovým procentem Er v tavenině z níž dochází k difůzi a v nepolední řadě následnou tepelnou úpravou vzorků.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

KSK1010104: Condensed matter physics and materials science

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of the International Conference on Particle Induced X-Ray Emission and its Analytical Applications, PIXE 2004 /10./

ISBN

961-6303-62-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

3

Pages from-to

"852.1"-"852.3"

Publisher name

J. Stefan Institute

Place of publication

Portoroz

Event location

Portoroz

Event date

Jun 4, 2004

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—