Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F08%3A00312280" target="_blank" >RIV/61389013:_____/08:00312280 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST

Original language description

Many polymer systems contain matrix filled with particles with very broad size distributions. Such systems are, for instance, high-impact polystyrene or ultra-high molecular weight polyethylene wear particles. Morphological analysis of particles in thesesystems requires special treatment. This is due to the fact that the smallest and the biggest particles cannot be observed at the same magnification. We show that analysis of both low- and high-magnification micrographs with our own software MDIST yields the correct distribution of sizes and other morphological parameters.

Czech name

Morfologická analýza částic s velmi širokou distribucí velikostí pomocí programu MDIST

Czech description

Mnoho polymerních systémů sestává z matrice naplněné částicemi s velkou distribucí velikostí. Takovými systémy jsou například houževnatý polystyren nebo otěrové částice vysokomolekulárního polyethylenu. Morfologická analýza částic v těchto systémech musíbýt provedena speciálním způsobem, což je způsobeno skutečností, že nejmenší a největší částice nelze pozorovat současně při jediném zvětšení. V tomto příspěvku ukazujeme, jak získat korektní distribuce velikostí a dalších morfologických parametrů pomocí současné analýzy mikrofotografií s vysokým a nízkým zvětšením v kombinaci s naším vlastním programem MDIST.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

CD - Macromolecular chemistry

OECD FORD branch

—

Project

Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of the 14th European Microscopy Congress EMC 2008

ISBN

978-3-540-85154-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

2

Pages from-to

—

Publisher name

Springer Verlag Berlin Heidelberg

Place of publication

Berlin

Event location

Aachen

Event date

Sep 1, 2008

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—