An Embedding Set for Electron Microscopy
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F25%3A00642769" target="_blank" >RIV/61389013:_____/25:00642769 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/60077344:_____/25:00642769 RIV/68081731:_____/25:00642769
Result on the web
<a href="https://isdv.upv.gov.cz/webapp/resdb.print_detail.det?pspis=PUV/43173" target="_blank" >https://isdv.upv.gov.cz/webapp/resdb.print_detail.det?pspis=PUV/43173</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Sada pro zalévání vzorků pro elektronovou mikroskopii
Original language description
Byla vytvořena sada pro zalévání vzorků do modifikovaných pryskyřic na bázi uhlíku, které jsou odolnější k nabíjení a poškození při interakci s elektronovým svazkem. Sada nalezne uplatnění při elektronově-mikroskopických analýzách, které vyžadují krájet vzorky do podoby ultratenkých řezů s tloušťkou pod 100 nm, jako je tomu při pozorování v transmisním elektronovém mikroskopu (dále TEM) nebo ve skenovacím elektronovém mikroskopu (dále SEM) při použití metod pro standardní i trojrozměrnou analýzu vzorků, a to zejména pomocí technik array tomografie (AT), serial block face SEM (SBF) nebo focus-ion-beam SEM (FIB). Podstatou řešení je, že do běžných zalévacích pryskyřic (epoxidových, akrylátových, či jiných vhodných pryskyřic) je před vytvrzením přidáno 0,5 až 15 % hmotn. stabilizačního činidla, které se působením elektronového svazku rozpadá na nízkomolekulární fragmenty odvádějící náboj ke stěnám komory mikroskopu.
Czech name
Sada pro zalévání vzorků pro elektronovou mikroskopii
Czech description
Byla vytvořena sada pro zalévání vzorků do modifikovaných pryskyřic na bázi uhlíku, které jsou odolnější k nabíjení a poškození při interakci s elektronovým svazkem. Sada nalezne uplatnění při elektronově-mikroskopických analýzách, které vyžadují krájet vzorky do podoby ultratenkých řezů s tloušťkou pod 100 nm, jako je tomu při pozorování v transmisním elektronovém mikroskopu (dále TEM) nebo ve skenovacím elektronovém mikroskopu (dále SEM) při použití metod pro standardní i trojrozměrnou analýzu vzorků, a to zejména pomocí technik array tomografie (AT), serial block face SEM (SBF) nebo focus-ion-beam SEM (FIB). Podstatou řešení je, že do běžných zalévacích pryskyřic (epoxidových, akrylátových, či jiných vhodných pryskyřic) je před vytvrzením přidáno 0,5 až 15 % hmotn. stabilizačního činidla, které se působením elektronového svazku rozpadá na nízkomolekulární fragmenty odvádějící náboj ke stěnám komory mikroskopu.
Classification
Type
F<sub>uzit</sub> - Utility model
CEP classification
—
OECD FORD branch
10404 - Polymer science
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TN02000020" target="_blank" >TN02000020: Centre of Advanced Electron and Photonic Optics</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2025
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Patent/design ID
38848
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
—
Owner name
Biologické centrum AV ČR, v. v. i. – Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i. – Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Method of use
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Usage type
V - Výsledek je využíván vlastníkem