Surface topography measurement using multi-wavelength interferometry

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F18%3A00490542" target="_blank" >RIV/61389021:_____/18:00490542 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Měření topografie povrchu metodou multivlnné interferometrie
Original language description
Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, specielně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.
Czech name
Měření topografie povrchu metodou multivlnné interferometrie
Czech description
Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, specielně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.

Project
<a href="/en/project/LO1206" target="_blank" >LO1206: Modern optical systems and technologies</a><br>
Continuities
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Publication year
2018
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)