Method for measuring quick changes in low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage and equipment to perform this type of measurement
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F17%3A73586551" target="_blank" >RIV/61989592:15310/17:73586551 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/306/306726.pdf" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/306/306726.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí a zařízení pro provádění tohoto způsobu měření
Original language description
Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí je založen na porovnávacím měření na děliči napětí a synchronizaci měřících pulzů s periodickým sinusoidálním průběhem interference, kdy na testovaný povrch dielektrika je přivedeno napětí o určených parametrech pravoúhlého impulzu, přičemž na děliči napětí vytvořeném z měřeného povrchu dielektrika a rezistoru o zvolené hodnotě odporu je vzorkován potenciál v určitých časových intervalech jednak před vložením měřícího pulzu a jednak těsně před jeho koncem, kdy poté na základě rozdílu naměřených hodnot pomocí diferenčního zesilovače je získána hodnota odpovídající hodnotě naměřené bez vlivu elektromagnetické interference 50 Hz, kde výsledkem je umožnění naměření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti povrchu dielektrika. Zařízení pro měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí obsahuje snímací prvek (1) sledování elektromagnetické interference na nějž je zapojen blok (2) sledování elektromagnetické interference, na jehož první výstup je připojen komparační blok (3) pro řízení vytváření časových sekvencí a blok (4) vytváření pulzů, jehož výstup pravoúhlého pulzu 1ms/±5 V, dále první výstup 10 µs/±5 V a druhý výstup 10 µs/±5 V jsou propojeny na jednotlivé vstupy bloku (6) logických členů, přičemž další výstup bloku (2) sledování elektromagnetické interference je propojen na komparační člen (5), jehož výstup je propojen na čtvrtý vstup bloku (6) logických členů, přičemž první výstup bloku (6) logických členů je propojen přes blok (7) modulace pulzů s výstupem pulz 0 až 300 mV na zkoumaný povrch v bloku (8) děliče napětí povrch/rezistor děliče, kde výstup z tohoto bloku (8) děliče napětí povrch/rezistor děliče je propojen přes blok (11) sledovače napětí na děliči s velmi vysokou vstupní impedancí na signálové vstupy prvního sample-and-hold zesilovače (9) a druhého sample-and-hold zesilovače (10), přičemž druhý vstup pro řízení vzorkování prvního sample-and-hold zesilovače (9) a druhý vstup pro řízení vzorkování druhého sample-and-hold zesilovače (10) jsou propojeny s odpovídajícími výstupy pro řízení vzorkování bloku (6) logických členů, přičemž výstup prvního sample-and-hold zesilovače (9) je propojen přes blok (12) dvou sériově zapojených invertujících zesilovačů na invertující vstup diferenčního zesilovače (13), na jehož neinvertující vstup je připojen výstup druhého sample-and-hold zesilovače (10), přičemž diferenční zesilovač (13) je přes blok (14) eliminace náhodného kolísání signálu a výstupní blok (15) s nízkou impedancí propojen s výstupem zařízení.
Czech name
Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí a zařízení pro provádění tohoto způsobu měření
Czech description
Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí je založen na porovnávacím měření na děliči napětí a synchronizaci měřících pulzů s periodickým sinusoidálním průběhem interference, kdy na testovaný povrch dielektrika je přivedeno napětí o určených parametrech pravoúhlého impulzu, přičemž na děliči napětí vytvořeném z měřeného povrchu dielektrika a rezistoru o zvolené hodnotě odporu je vzorkován potenciál v určitých časových intervalech jednak před vložením měřícího pulzu a jednak těsně před jeho koncem, kdy poté na základě rozdílu naměřených hodnot pomocí diferenčního zesilovače je získána hodnota odpovídající hodnotě naměřené bez vlivu elektromagnetické interference 50 Hz, kde výsledkem je umožnění naměření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti povrchu dielektrika. Zařízení pro měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí obsahuje snímací prvek (1) sledování elektromagnetické interference na nějž je zapojen blok (2) sledování elektromagnetické interference, na jehož první výstup je připojen komparační blok (3) pro řízení vytváření časových sekvencí a blok (4) vytváření pulzů, jehož výstup pravoúhlého pulzu 1ms/±5 V, dále první výstup 10 µs/±5 V a druhý výstup 10 µs/±5 V jsou propojeny na jednotlivé vstupy bloku (6) logických členů, přičemž další výstup bloku (2) sledování elektromagnetické interference je propojen na komparační člen (5), jehož výstup je propojen na čtvrtý vstup bloku (6) logických členů, přičemž první výstup bloku (6) logických členů je propojen přes blok (7) modulace pulzů s výstupem pulz 0 až 300 mV na zkoumaný povrch v bloku (8) děliče napětí povrch/rezistor děliče, kde výstup z tohoto bloku (8) děliče napětí povrch/rezistor děliče je propojen přes blok (11) sledovače napětí na děliči s velmi vysokou vstupní impedancí na signálové vstupy prvního sample-and-hold zesilovače (9) a druhého sample-and-hold zesilovače (10), přičemž druhý vstup pro řízení vzorkování prvního sample-and-hold zesilovače (9) a druhý vstup pro řízení vzorkování druhého sample-and-hold zesilovače (10) jsou propojeny s odpovídajícími výstupy pro řízení vzorkování bloku (6) logických členů, přičemž výstup prvního sample-and-hold zesilovače (9) je propojen přes blok (12) dvou sériově zapojených invertujících zesilovačů na invertující vstup diferenčního zesilovače (13), na jehož neinvertující vstup je připojen výstup druhého sample-and-hold zesilovače (10), přičemž diferenční zesilovač (13) je přes blok (14) eliminace náhodného kolísání signálu a výstupní blok (15) s nízkou impedancí propojen s výstupem zařízení.
Classification
Type
P - Patent
CEP classification
—
OECD FORD branch
10406 - Analytical chemistry
Result continuities
Project
—
Continuities
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Others
Publication year
2017
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Patent/design ID
306726
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
Apr 12, 2017
Owner name
Univerzita Palackého v Olomouci
Method of use
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence