Measurement of coating layers on electronic capacitor components
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F25%3A73635254" target="_blank" >RIV/61989592:15310/25:73635254 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Měření vrstev laku na elektronických součástkách kondenzátorů
Original language description
Byla posouzena možnost měření tloušťky laku na pouzdrech kondenzátorů pomocí konfokální mikroskopie. K měření byl použit konfokální mikroskop pracující na vlnové délce 405 nm. Pro správné stanovení tloušťky bylo nejprve nutné určit index lomu laku na pracovní vlnové délce, který byl změřen pomocí spektrální elipsometrie na referenčních vrstvách připravených na křemíkových podložkách. Tloušťka laku byla následně měřena přímo na vybraných pouzdrech kondenzátorů v několika reprezentativních oblastech. Byla zjištěna nehomogenita rozložení vrstvy související s tvarovými odchylkami povrchu pouzder. Doplňková měření drsnosti a vlnitosti povrchu pouzder bez laku ukázala, že morfologie podkladu významně ovlivňuje lokální profil a rovnoměrnost nanesené vrstvy. Bylo potvrzeno, že konfokální mikroskopie je vhodnou metodou pro profilové měření tloušťky laku na těchto typech součástek. Při interpretaci výsledků je však nutné zohlednit povrchovou topografii a přesné stanovení indexu lomu měřeného materiálu.
Czech name
Měření vrstev laku na elektronických součástkách kondenzátorů
Czech description
Byla posouzena možnost měření tloušťky laku na pouzdrech kondenzátorů pomocí konfokální mikroskopie. K měření byl použit konfokální mikroskop pracující na vlnové délce 405 nm. Pro správné stanovení tloušťky bylo nejprve nutné určit index lomu laku na pracovní vlnové délce, který byl změřen pomocí spektrální elipsometrie na referenčních vrstvách připravených na křemíkových podložkách. Tloušťka laku byla následně měřena přímo na vybraných pouzdrech kondenzátorů v několika reprezentativních oblastech. Byla zjištěna nehomogenita rozložení vrstvy související s tvarovými odchylkami povrchu pouzder. Doplňková měření drsnosti a vlnitosti povrchu pouzder bez laku ukázala, že morfologie podkladu významně ovlivňuje lokální profil a rovnoměrnost nanesené vrstvy. Bylo potvrzeno, že konfokální mikroskopie je vhodnou metodou pro profilové měření tloušťky laku na těchto typech součástek. Při interpretaci výsledků je však nutné zohlednit povrchovou topografii a přesné stanovení indexu lomu měřeného materiálu.
Classification
Type
V<sub>souhrn</sub> - Summary research report
CEP classification
—
OECD FORD branch
10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
Result continuities
Project
—
Continuities
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Others
Publication year
2025
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Data specific for result type
Number of pages
6
Place of publication
—
Publisher/client name
Kyocera s.r.o., Lanškroun
Version
—