All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Application note - In situ SEM study of fatigue crack growth

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081723%3A_____%2F24%3A00646567" target="_blank" >RIV/68081723:_____/24:00646567 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Aplikační list - In situ SEM study of fatigue crack growth

  • Original language description

    Aplikační list představuje možnosti vyvinutého zátěžného modulu pro rastrovací elektronový mikroskop. Ten je navržen pro in situ zkoušky šíření únavových trhlin v CT (compact tension) vzorcích. Bylo prokázáno, že s pomocí zátěžného modulu je možno získat vysoce kvalitních dat z hlediska charakterizace mechanismů uplatňujících se u propagace trhlin v kovovém materiálu. K tomu dopomáhá možnost dvou poloh upnutí modulu. Nakloněná poloha slouží k in situ EBSD pozorováním, která dovede indentifikovat typ a orientaci krystalové mřížky studovaného místa, zatímco horizontální slouží k pořízení snímků s vysokým rozlišením vhodných pro digitální korelaci obrazu (DIC).

  • Czech name

    Aplikační list - In situ SEM study of fatigue crack growth

  • Czech description

    Aplikační list představuje možnosti vyvinutého zátěžného modulu pro rastrovací elektronový mikroskop. Ten je navržen pro in situ zkoušky šíření únavových trhlin v CT (compact tension) vzorcích. Bylo prokázáno, že s pomocí zátěžného modulu je možno získat vysoce kvalitních dat z hlediska charakterizace mechanismů uplatňujících se u propagace trhlin v kovovém materiálu. K tomu dopomáhá možnost dvou poloh upnutí modulu. Nakloněná poloha slouží k in situ EBSD pozorováním, která dovede indentifikovat typ a orientaci krystalové mřížky studovaného místa, zatímco horizontální slouží k pořízení snímků s vysokým rozlišením vhodných pro digitální korelaci obrazu (DIC).

Classification

  • Type

    O - Miscellaneous

  • CEP classification

  • OECD FORD branch

    20306 - Audio engineering, reliability analysis

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/FW03010504" target="_blank" >FW03010504: Development of in-situ techniques for characterization of materials and nanostructures</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2024

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů