Computer-Aided Design for Electron Microscopy

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00100006" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00100006 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Computer-Aided Design for Electron Microscopy

Original language description

Electron optics helps us in designing better microscopes, improving their resolution up to the physical limits, and better utilization of the signals provided by the samples. The article gives a brief overview of computation methods for particle optics and illustrates the use of software on two examples of magnetic lens design

Czech name

Počítačový návrh pro elektronovou mikroskopii

Czech description

Elektronová optika nám dovoluje navrhovat lepší mikroskopy, zlepšit jejich rozlišení až k fyzikálním mezím, a lepší využití signálů vycházejících ze vzorku. Článek podává stručný přehled o výpočetních metodách pro částicovou optiku a ukazuje použití programů na dvou příkladech návrhu magnetických čoček

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

G.I.T. Imaging and Microscopy

ISSN

1439-4243

e-ISSN

—

Volume of the periodical

6

Issue of the periodical within the volume

1

Country of publishing house

DE - GERMANY

Number of pages

3

Pages from-to

51-53

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—