Device for measurement of thermal emissivity at cryogenics temperatures

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00100016" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00100016 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Device for measurement of thermal emissivity at cryogenics temperatures

Original language description

In the described device, the thermal emissivity or absorptivity of the sample is measured by substitution of the radiative heat flow between two parallel surfaces by thermal output of a heater. Fast measurements of the mutual emissivity for the range ofthe temperature of the radiating surface 25 K - 150 K are possible. The absorbing surface has a temperature between 5 K and 10 K when LHe is used as cryoliquid. The desired measurement sensitivity is 1 mK for temperature and 0.1 mikroW for heat power, respectively. The diameter of the whole device is 50 mm and so it is possible to use a commercial Dewar can for the cooling. The form of the sample is a circular plate 40 mm in diameter and 1 mm in thickness with one tested side. The emissivity and its temperature dependence for various surface treatments can be checked immediately before application in a cryogenic system

Czech name

Zařízení pro měření tepelné emisivity při nízkých teplotách

Czech description

V popsaném zařízení se měří tepelná emisivita nebo absorptivita vzorku substitucí toku tepla zářením mezi dvěma rovnoběžnými povrchy tepelným výkonem topení. Je možné provádět rychlá měření vzájemné emisivity v rozsahu teplot zářícího povrchu 25 K- 150 K. Absorbující povrch má teplotu 5 K - 10 K, je-li k chlazení použito LHe. Dosahovaná citlivost měření je 1mK pro teplotu nebo 0,1 mikroW pro tepelný výkon. Celkový průměr zařízení je 50 mm a k chlazení lze použít komerčně dostupnou Dewarovu nádobu. Vzorek má tvar disku o průměru 40 mm o tloušťce 1 mm s jednou měřenou stranou. Lze měřit emisivitu a její teplotní závislost pro různé úpravy povrchů bezprostředně před jejich použitím v kryogenním zařízení

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BJ - Thermodynamics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/IBS2065109" target="_blank" >IBS2065109: Cryogenic materials and measurement of their emissivities</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of the 8th Cryogenics 2004 IIR international conference

ISBN

2-913149-33-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

7

Pages from-to

23-29

Publisher name

ICARIS

Place of publication

Praha

Event location

Praha

Event date

Apr 27, 2004

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—