Scanning Low Energy Electron Microscope Applications for Microstructure of Al2O3/Al-Mg-Si Alloy Matrix Composite Material

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109066" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109066 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Scanning Low Energy Electron Microscope Applications for Microstructure of Al2O3/Al-Mg-Si Alloy Matrix Composite Material

Original language description

Formation of reacted products on the interface between Al2O3 particles and the Aluminum matrix in the Al2O3/Al-Mg-Si alloy matrix composite affect the hardness properties of the material. This product was identified as MgAl2O4 (spinel), which was grown on the Al2O3 particle during the cast. The presence of spinels causes the Aging Hardening curves of the composite materials showing the maximum Aging Hardness lower than that of the unreinforced matrix alloy. The Scanning Low Energy Electron Microscope system revealed that the spinel in this composite material has a triangular facet on the Al2O3 particle

Czech name

Použití rastrovacího nízkoenergiového elektronového mikroskopu ke studiu mikrostruktury kompozitního materiálu se slitinovou matricí Al2O3/Al-Mg-Si

Czech description

Tvorba reakčních produktů na rozhraní mezi částicemi Al2O3 a hliníkovou matricí ve slitinovém kompozitu Al2O3/Al-Mg-Si ovlivňuje tvrdostní vlastnosti materiálu. Reakční produkt byl identifikován jako MgAl2O4 (spinel), který narostl na povrchu částice Al2O3 v průběhu lití. Přítomnost spinelů způsobuje, že průběhy vytvrzování stárnutím vykazují pro kompozitní materiál maximální tvrdost po vystárnutí na nižší úrovni, než odpovídá nevyztužené slitině matrice. Systém rastrovacího nízkoenergiového elektronového mikroskopu odhalil, že spinely v tomto kompozitním materiálu rostou z trojúhelníkových facet na povrchu částic Al2O3

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA202%2F04%2F0281" target="_blank" >GA202/04/0281: Mapping at a high spatial resolution of the local density of electron states via reflection of very slow electrons</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of the 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy

ISBN

4-9902106-0-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

2

Pages from-to

779-780

Publisher name

8APEM Publication Committee

Place of publication

Kanazawa

Event location

Kanazawa

Event date

Jun 7, 2004

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—