How the size of a particle approaching dielectric interface influences its behavior

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109083" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109083 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
How the size of a particle approaching dielectric interface influences its behavior
Original language description
The influence of size of the trapped object on its position near the dielectric interface is studied experimentally. The trapping beam is reflected on a surface and creates weak standing wave component in resulting field distribution. This component causes unwanted jumps of the trapped particle, when the beam waist moves axially in the surface vicinity. Particles of different sizes are more and less influenced by the standing wave, respectively. The position of the trapped particle is measured with quadrant photodiode and photomultiplier tube at the same time
Czech name
Vliv velikosti částice na její chování v blízkosti dielektrického rozhraní
Czech description
Experimentálně je studován vliv velikosti opticky vázaného objektu na jeho polohu poblíž dielektrického rozhraní. Chytací svazek se odráží od povrchu a vytváří slabou stojatou vlnu, která se podílí na výsledném poli. Tato komponenta způsobuje nechtěné přeskoky chycené částice, když se pas svazku pohybuje axiálně v blízkosti povrchu. Částice různých velikostí jsou ovlivňovány stojatou vlnou různou měrou. Poloha chycené částice je současně měřena kvadrantním detektorem a fotonásobičem

Project
<a href="/en/project/IAA1065203" target="_blank" >IAA1065203: The use of combination of laser microbeam and cytometric techniques in the study of the structure and dynamics of human genome</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings of SPIE - The International society for optical engineering. Optical Trapping and Optical Micromanipulation (Vol. 5514)
ISBN
0-8194-5452-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
8
Pages from-to
636-642
Publisher name
SPIE
Place of publication
Denver
Event location
Denver
Event date
Aug 2, 2004
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)