All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

SEM Observation of Multilayer Semiconductor Structures Using Different Detection Modes

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022412" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022412 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    SEM Observation of Multilayer Semiconductor Structures Using Different Detection Modes

  • Original language description

    Specimen observation using various detection systems offers more information about examined object than using just one detector. The scintillation detector of backscattered electrons is particularly useful for semiconductor specimen observation. This detector can provide material contrast of specimen and defects in semiconductor structures can be recognized.

  • Czech name

    Pozorování vícevrstvých polovodičových struktur v SEM pomocí různých detekčních modů

  • Czech description

    Zobrazováním vzorku různými detekčními systémy získáme o zkoumaném objektu mnohem víc informací než při použití pouze jednoho typu detektoru. Při pozorování polovodičových struktur je zvláště výhodný scintilační detektor zpětně odražených elektronů, který nám umožňuje pozorovat materiálový kontrast vzorku a tím, například rozlišit vady v polovodičových strukturách.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/GA102%2F05%2F0886" target="_blank" >GA102/05/0886: Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2005

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./

  • ISBN

    1019-6447

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    1

  • Pages from-to

    339

  • Publisher name

    Paul Scherrer Institute

  • Place of publication

    Villigen

  • Event location

    Davos

  • Event date

    Aug 28, 2005

  • Type of event by nationality

    WRD - Celosvětová akce

  • UT code for WoS article