SEM Observation of Multilayer Semiconductor Structures Using Different Detection Modes
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022412" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022412 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
SEM Observation of Multilayer Semiconductor Structures Using Different Detection Modes
Original language description
Specimen observation using various detection systems offers more information about examined object than using just one detector. The scintillation detector of backscattered electrons is particularly useful for semiconductor specimen observation. This detector can provide material contrast of specimen and defects in semiconductor structures can be recognized.
Czech name
Pozorování vícevrstvých polovodičových struktur v SEM pomocí různých detekčních modů
Czech description
Zobrazováním vzorku různými detekčními systémy získáme o zkoumaném objektu mnohem víc informací než při použití pouze jednoho typu detektoru. Při pozorování polovodičových struktur je zvláště výhodný scintilační detektor zpětně odražených elektronů, který nám umožňuje pozorovat materiálový kontrast vzorku a tím, například rozlišit vady v polovodičových strukturách.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F05%2F0886" target="_blank" >GA102/05/0886: Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./
ISBN
1019-6447
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
1
Pages from-to
339
Publisher name
Paul Scherrer Institute
Place of publication
Villigen
Event location
Davos
Event date
Aug 28, 2005
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—