Submicron particle localization using evanescent field
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022520" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022520 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Submicron particle localization using evanescent field
Original language description
Recently a non-contact organization of submicron colloidal particles on the surface attracted a great attention in connection with development of imaging techniques using total internal reflection. We focus here on the theoretical description of the forces acting on a submicron particle placed in an interference field created by two counter-propagating evanescent waves. Numerical results elucidate how these forces or trap depth depend on the particle size and angle of incidence of both beams. Experimental results proved these conclusions and several polystyrene particles of diameter 520 nm were confined in evanescent standing wave.
Czech name
Lokalizace submikronové částice pomocí evanescentního pole
Czech description
Bezkontaktní uspořádání submikronových koloidních částic na povrchu přitahuje velkou pozornost ve spojení s rozvojem zobrazovacích technik, které využívají totální odraz. Zaměříme se zde na teoretický popis sil působících na submikronové částice v interferenčním poli vytvořeném dvěma protiběžnými evanescentními vlnami. Numerické výsledky osvětlí, jak závisí hloubka pasti na velikosti částice a na úhlu dopadu obou svazků. Experimentální výsledky podporují tyto závěry jak bude ukázáno na příkladu několikapolystyrénových kuliček zachycených do evanescentní stojaté vlny.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Optical Trapping and Optical Micromanipulation II. (Proceedings of SPIE Vol. 5930)
ISBN
0-8194-5935-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
9
Pages from-to
182-190
Publisher name
International Society for Optical Engineering
Place of publication
Belingham
Event location
San Diego
Event date
Jul 31, 2005
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—