The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00044288" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00044288 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
Original language description
The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) mode, employing the cathode lens for retardation of the primary beam just in front of the sample surface, is presented together with results of selected demonstration experiments.
Czech name
Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM) v REM
Czech description
Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM), využívající katodovou čočku ke zpomalení primárního svazku bezprostředně před povrchem preparátu, je popsán spolu s výsledky vybraných demonstračních experimentů.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/GA202%2F04%2F0281" target="_blank" >GA202/04/0281: Mapping at a high spatial resolution of the local density of electron states via reflection of very slow electrons</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Result description