CAD in Electron Optics

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00092382" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00092382 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
CAD in Electron Optics
Original language description
Invited talk on 8th Multinational congress on microscopy in the session Electron optics and optical elements. It discusses the themes of reduced interest in papers from electron optics on microscopy conferences and the progress in computational programs(such as EOD from ISI AS CR), in particular in accurate electron ray tracing in electromagnetic fields and in user interfaces.
Czech name
CAD v elektronové optice
Czech description
Pozvaný referát na 8. Mezinárodní konferenci mikroskopie v sekci Elektronová optika a optické prvky. Diskutuje témata jako opadávající zájem o příspěvky z elektronové optiky na mikroskopických konferencích a pokrok ve výpočetních programech (například EOD z ÚPT AV ČR), zejména v přesném trasování elektronů v elektromagnetických polích a v uživatelských interfejsích.

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy
ISBN
978-80-239-9397-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
19-20
Publisher name
Czechoslovak Microscopy Society
Place of publication
Prague
Event location
Prague
Event date
Jun 17, 2007
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)