Applications of the scanning low energy electron microscopy in materials science

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00094360" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00094360 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Applications of the scanning low energy electron microscopy in materials science
Original language description
Survey is provided as regards applications of the low energy scanning electron microscopy in several branches of materials science. Main contrast mechanisms are characterized and results of demonstration experiments presented including those of the multichannel signal detection.
Czech name
Použití rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie v materiálových vědách
Czech description
Je předložen přehled aplikací nízkoenergiové rastrovací elektronové mikroskopie v několika oblastech materiálových věd. Jsou charakterizovány hlavní kontrastní mechanismy a prezentovány výsledky demonstračních experimentů včetně výsledků získaných mnohakanálovou detekcí signálu.

Project
<a href="/en/project/GA102%2F05%2F2327" target="_blank" >GA102/05/2327: Direct imaging of the dopant distribution in a semiconductor by means of low energy clectrons</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings of 2007 Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology
ISBN
978-4-9903248-1-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
11-12
Publisher name
IKENO Laboratory, University of Toyama
Place of publication
Toyama
Event location
Toyama
Event date
Nov 14, 2007
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—

Result description