The scanning electron microscope with resolution below 1 nm
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00385755" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00385755 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Rastrovací elektronový mikroskop s rozlišením pod 1 nm
Original language description
Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky (ÚPT) v Brně získal mikroskop Magellan, který je absolutní špičkou v oboru rastrovací elektronové mikroskopie. V České republice jde o první instalaci tohoto přístroje. Ve světě jich americká firmaFEI, která má jedno ze svých vývojových a výrobních center také v Brně, uvádí do provozu asi 20 ročně. Přístroj bude sloužit nejen vědcům z ÚPT k základnímu i aplikovanému výzkumu, ale nabídnou jej také kolegům z ostatních ústavů, univerzit a průmyslových firem.
Czech name
Rastrovací elektronový mikroskop s rozlišením pod 1 nm
Czech description
Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky (ÚPT) v Brně získal mikroskop Magellan, který je absolutní špičkou v oboru rastrovací elektronové mikroskopie. V České republice jde o první instalaci tohoto přístroje. Ve světě jich americká firmaFEI, která má jedno ze svých vývojových a výrobních center také v Brně, uvádí do provozu asi 20 ročně. Přístroj bude sloužit nejen vědcům z ÚPT k základnímu i aplikovanému výzkumu, ale nabídnou jej také kolegům z ostatních ústavů, univerzit a průmyslových firem.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/ED0017%2F01%2F01" target="_blank" >ED0017/01/01: APPLICATION LABORATORIES OF ADVANCED MICROTECHNOLOGIES AND NANOTECHNOLOGIES</a><br>
Continuities
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Others
Publication year
2012
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Volume of the periodical
57
Issue of the periodical within the volume
10
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
2
Pages from-to
281-282
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—