SMV-2018-21: Calculation of electron optical properties of XPS source
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F18%3A00499163" target="_blank" >RIV/68081731:_____/18:00499163 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje
Original language description
Výpočet a optimalizace elektronově optických vlastností trysky, která se používá v zdroji Roentgenovéo foto-emisního spektroskopu. Jednalo se o výpočet termoemise limitované prostorovým nábojem. Pro výpočet byly použity metody vyvinuté na ÚPT.
Czech name
SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje
Czech description
Výpočet a optimalizace elektronově optických vlastností trysky, která se používá v zdroji Roentgenovéo foto-emisního spektroskopu. Jednalo se o výpočet termoemise limitované prostorovým nábojem. Pro výpočet byly použity metody vyvinuté na ÚPT.
Classification
Type
V<sub>souhrn</sub> - Summary research report
CEP classification
—
OECD FORD branch
20202 - Communication engineering and systems
Result continuities
Project
—
Continuities
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Others
Publication year
2018
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Data specific for result type
Number of pages
5
Place of publication
Brno
Publisher/client name
FEI CZECH REPUBLIC
Version
—