Surface profile measurement by means of white light interferometry.

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F02%3A02020128" target="_blank" >RIV/68378271:_____/02:02020128 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Měření výškového profilu předmětu pomocí interferometrie v bílém světle.

Original language description

V článku je představena interferometrie v bílem světle jako metoda vhodná pro měření na drsném povrchu. Tím je možné pomocí této metody měřit topologii předmětů, jejichž povrch je opracován běžnými technologiemi.

Czech name

Měření výškového profilu předmětu pomocí interferometrie v bílém světle.

Czech description

—

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BH - Optics, masers and lasers

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/LN00A015" target="_blank" >LN00A015: Research center for optics</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2002

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6441

e-ISSN

—

Volume of the periodical

47

Issue of the periodical within the volume

3

Country of publishing house

CZ - CZECH REPUBLIC

Number of pages

3

Pages from-to

83-85

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—