Possibilities of measuring system NanoTest NT600

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F05%3A00023547" target="_blank" >RIV/68378271:_____/05:00023547 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Možnosti měřicího systému NanoTest NT600
Original language description
Technologie tenkých vrstev je v současnosti nepostradatelnou součástí mnoha výrobních procesů. S úspěchem se využívá například v elektronickém průmyslu, elektronice, optice, strojírenství, energetice či lékařství.
Czech name
Možnosti měřicího systému NanoTest NT600
Czech description
Technologie tenkých vrstev je v současnosti nepostradatelnou součástí mnoha výrobních procesů. S úspěchem se využívá například v elektronickém průmyslu, elektronice, optice, strojírenství, energetice či lékařství.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/1QS100100563" target="_blank" >1QS100100563: New low temperature plasmatic deposition technologies of Ba1-xSrxTiO3 thin films for tunable microwave applications</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Result description