Internal structure of mixed phase hydrogenated silicon thin films made at 39 degrees
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00041137" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00041137 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Internal structure of mixed phase hydrogenated silicon thin films made at 39 degrees
Original language description
A combined cross-sectional transmission electron microscope (XTEM) and atomic force microscope (AFM) study of thin silicon films deposited at 39 degrees shows isolated conically shaped crystalline conglomerates embedded in an amorphous phase with columnar structure.
Czech name
Vnitřní struktura hydrogenovaných křemíkových vrstev se smíšenou fází připravených při 39 st. Celsia
Czech description
Pomocí transmisního elektronového mikroskopu (XTEM) a mikroskopu atomárních sil (AFM) byly zkoumány tenké křemíkové vrstvy připravené při 39 st. celsia, které vykázaly izolované kuželovité shluky krystalických zrn vnořené do amorfní fáze se sloupcovitoustrukturou.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Applied Physics Letters
ISSN
0003-6951
e-ISSN
—
Volume of the periodical
89
Issue of the periodical within the volume
-
Country of publishing house
US - UNITED STATES
Number of pages
3
Pages from-to
"051922/1"-"051922/3"
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—