Real topography, atomic relaxations and short-range chemical interactions in atomic force microscopy: the case of the -Sn/Si(111)-(3 x 3) R30 surface,

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00041140" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00041140 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Real topography, atomic relaxations and short-range chemical interactions in atomic force microscopy: the case of the -Sn/Si(111)-(3 x 3) R30 surface,
Original language description
Reliable room-temperature force spectroscopic measurements using the atom-tracking technique and first-principles calculations provide an explanation for these striking induced hight variations on the pure phase in terms of both the different strength ofthe short-range chemical interaction and tip-induced atomic relaxations.
Czech name
Reálná topografie, atomární relaxace a krátkodosahové chemické interakce v mikroskopu atomárních sil: povrch -Sn/Si(111)-(3 x 3) R30
Czech description
Spolehlivé měření spektroskopie sil při pokojové teplotě s užitím metody ?atom-tracking? a výpočty z prvních principů poskytují vysvětlení pro indukovanou změnu korugace na čisté fázi díky různé síle krátkodosahové chemické interakce a hrotem indukovanéatomární relaxace.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/1K05020" target="_blank" >1K05020: Ab inito study of electrical and mechanical properties of nanosystems.</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)