X-ray laser interference microscopy for advanced studies of laser-induced damages

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F07%3A00090020" target="_blank" >RIV/68378271:_____/07:00090020 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

X-ray laser interference microscopy for advanced studies of laser-induced damages

Original language description

We show result obtained using XUV interference microscopy to observe in situ nanometer-scale modifications of optical surfaces exposed to intense sub-ns laser pulses.

Czech name

Interferenční mikroskopie s rtg. laserem pro pokročilé studium poškozování optických povrchů

Czech description

Představujeme výsledky experimentu s rentgenovým laserem zaměřeného na studium jevů, k nimž dochází při vzniku laserem indukovaného poškození optických materiálů. Byla vyvinuta a otestována nová technika rtg. interferometrické mikroskopie s nanometrovýmrozlišením.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BH - Optics, masers and lasers

OECD FORD branch

—

Project

Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2007

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

X-Ray lasers 2006

ISBN

978-1-4020-6017-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

6

Pages from-to

571-576

Publisher name

Springer-Verlag

Place of publication

Dordrecht

Event location

Berlin

Event date

Aug 21, 2006

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—