Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F07%3A00093055" target="_blank" >RIV/68378271:_____/07:00093055 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/61389013:_____/07:00093055
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films
Original language description
Prepared hetero-junction composite thin film of conductive polymer and fullerene is studied by several AFM techniques and micro-Raman mapping. The influence of microscopic morphologic and electronic properties on macroscopic behavior is discussed
Czech name
Korelace měření mikroskopie atomárních sil detekující lokální vodivost s mapováním mikro-Ramanovského rozptylu na tenkých vrstvách směsi polymeru s fullerenem
Czech description
Připravená tenká vrstva kompozitní heterostruktury z vodivého polymeru a fullerenu je studována několika AFM metodami a mapovánim mikro-Ramanovskeho rozptylu. Studuje se vliv mikroskopických morfologických a elektronických vlastností vrstvy na její makroskopické chování

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Result description