Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00316218" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00316218 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy

Original language description

Here, we report the assembling of complex atomic patterns at room temperature by the vertical interchange of atoms between the tip apex of an atomic force microscope and a semiconductor surface.

Czech name

Komplexní vzorkování pomocí vertikální výměnné manipulace atomu pomocí mikroskopu atomárních sil

Czech description

V práci prezentujeme vytvoření komplexního atomárního vzorku při pokojové teplotě pomocí vertikální záměny atomu mezi hrotem mikroskopu a polovodičovým povrchem.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/IAA1010413" target="_blank" >IAA1010413: Nanoscience and nanotechnology with scanning probe microscopes: from atomic processes to material properties</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Science

ISSN

0036-8075

e-ISSN

—

Volume of the periodical

322

Issue of the periodical within the volume

5900

Country of publishing house

US - UNITED STATES

Number of pages

4

Pages from-to

—

UT code for WoS article

000260094500039

EID of the result in the Scopus database

—