All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Diffusion process applied in fabrication of ion-exchanged optical waveguides in novel Er3+ and Er3+/Yb3+-doped silicate glasses

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00324679" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00324679 - isvavai.cz</a>

  • Alternative codes found

    RIV/61389005:_____/09:00324679 RIV/60461373:22310/09:00021464

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Diffusion process applied in fabrication of ion-exchanged optical waveguides in novel Er3+ and Er3+/Yb3+-doped silicate glasses

  • Original language description

    Planar optical waveguides fabricated in erbium doped glasses are promising for photonics components. We focused on the influence of chemical compositions of Er3+ and Er3+/Yb3+-doped silicate glasses on the properties important for the optical applications. Optical waveguides were fabricated by routine K+ instead of Na+ ion exchange in a set of the glasses that had various contents of the RE ions. Waveguiding properties were studied by means of Dark Mode Spectroscopy at 671 nm while the chemical composition of the waveguides was determined using Scanning Electron Microscopy (SEM-EDAX). Surface concentrations of the lasing RE ions were determined by Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS) and related to the resultant photoluminescence properties. Onthe bases of the obtained experimental results the relations between composition of the substrates, especially content of the active ions, and experimental procedures will be presented with regards to real fabrication processes.

  • Czech name

    Difuse aplikovaná ve výrobě po ion-výměně opticky vlnovodivý v novém Er3+ and Er3+/Yb3+- dotovaném silikátovém skle

  • Czech description

    Planární optické vlnovody vytvořené ve sklech dopováním erbia jsou slibné jako fotonické komponenty. Soustředili jsme se na chemické složení Er3+ a Er3+/Yb3+ dopovaných silikátových skel a dále na vlastnosti důležité pro optické aplikace. Optické vlnovody byly připraveny rutinním způsobem iontovou výměnou K+ za Na+ v souboru skel, který měl různý obsah iontů vzácných zemin. Vlnovodné vlasnosti byly studovány Dark Mode spektroskopií při 671 nm a chemické složení bylo určeno skenovací elektronovou mikroskopií (SEM-EDAX). Povrchové koncentrace laserově aktivních iontů byly určeny metodou Rutherfordovského zpětného rozptylu (RBS) a srovnány s luminiscenčními vlastnostmi. Na základě získaných výsledků jsme interpretovali souvislosti mezi složením substrátu,množstvím aktivního prvku a experimentální přípravou struktur.

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    BH - Optics, masers and lasers

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2009

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Journal of Materials Science-Materials in Electronics

  • ISSN

    0957-4522

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    20

  • Issue of the periodical within the volume

    1

  • Country of publishing house

    NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS

  • Number of pages

    4

  • Pages from-to

  • UT code for WoS article

    00026210690010

  • EID of the result in the Scopus database