A compact system for characterizing the spectrum and intensity profile of shortwave radiation beams
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F18%3A00545622" target="_blank" >RIV/68378271:_____/18:00545622 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/307/307169.pdf" target="_blank" >https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/307/307169.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Kompaktní systém pro charakterizaci spektra a profilu intenzity svazku krátkovlnného záření
Original language description
Vynález se zabývá kompaktním systémem provozovaném v režimu spektrální charakterizace svazku nebo v režimu monitorování intenzivního profilu, který obsahuje: difrakční element stínítko, které je mechanicky svázáno s difrakčním elementem přičemž stínítko v režimu spektrální charakterizace blokuje průchod svazku v příchozím smměru, zařízení pro mechanický posuv stínítka a difrakčního elementu, přičemž toto zařízení je schopno posuvu jak v transverzálním směru, tak i ve směru longitudinálním, reflexní element a fixně umístěný detektor, který leží na optické ose příchozího svazku. Kompaktní systém má uplatnění v oblasti spektrometrie a diagnostiky intenzivního profilu svazku, zejména pak v oblasti XUV a mekkého RTG záření.
Czech name
Kompaktní systém pro charakterizaci spektra a profilu intenzity svazku krátkovlnného záření
Czech description
Vynález se zabývá kompaktním systémem provozovaném v režimu spektrální charakterizace svazku nebo v režimu monitorování intenzivního profilu, který obsahuje: difrakční element stínítko, které je mechanicky svázáno s difrakčním elementem přičemž stínítko v režimu spektrální charakterizace blokuje průchod svazku v příchozím smměru, zařízení pro mechanický posuv stínítka a difrakčního elementu, přičemž toto zařízení je schopno posuvu jak v transverzálním směru, tak i ve směru longitudinálním, reflexní element a fixně umístěný detektor, který leží na optické ose příchozího svazku. Kompaktní systém má uplatnění v oblasti spektrometrie a diagnostiky intenzivního profilu svazku, zejména pak v oblasti XUV a mekkého RTG záření.
Classification
Type
P - Patent
CEP classification
—
OECD FORD branch
10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)
Result continuities
Project
<a href="/en/project/EF15_008%2F0000162" target="_blank" >EF15_008/0000162: ELI - EXTREME LIGHT INFRASTRUCTURE - phase 2</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2018
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Patent/design ID
307169
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
Feb 14, 2018
Owner name
Fyzikální ústav AV ČR v. v. i.
Method of use
B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence