Application of Semiconductid Strain Gages for Residual Stress Determination
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F02%3A02080116" target="_blank" >RIV/68407700:21220/02:02080116 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Použití polovodičových tenzometrů k určování zbytkových napětí
Original language description
Záměrem je citlivými tenzometry polovodičového typu měřit vliv vrubového otvoru od něj co nejdále, v relativně stabilní odezvě, která zahrne především vliv otvoru jmenovitého. To v případě odladění metodiky umožní jednodušší a rychlejší vyhodnocování a především spolehlivější výsledky vyhodnocení zbytkové napjatosti.
Czech name
Použití polovodičových tenzometrů k určování zbytkových napětí
Czech description
—
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JL - Fatigue and fracture mechanics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA106%2F00%2F1477" target="_blank" >GA106/00/1477: Strain diagnostics of surface quality of metal products</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2002
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Experimental Stress Analysis
ISBN
80-01-02547-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
293-294
Publisher name
Asociace strojních inženýrů
Place of publication
Praha
Event location
Praha
Event date
Jun 3, 2002
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—