Accurate identification of radiation defect profiles in silicon after irradiation with protons and alpha-particles in the MeV range

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F04%3A03096088" target="_blank" >RIV/68407700:21230/04:03096088 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Accurate identification of radiation defect profiles in silicon after irradiation with protons and alpha-particles in the MeV range
Original language description
The paper deals with accurate identification of radiation defect profiles in silicon after irradiation with protons and alpha-particles in the MeV range
Czech name
Přesná identifikace profilů radiačních poruch v křemíku způsobených ozářením protony a částicemi alfa
Czech description
Článek se zabývá přesnou identifikací profilů radiačních poruch v křemíku způsobených ozářením protony a částicemi alfa

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/GA102%2F03%2F0456" target="_blank" >GA102/03/0456: Novel methods of local lifetime control in semiconductors</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Result description