Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F07%3A03129817" target="_blank" >RIV/68407700:21230/07:03129817 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing
Original language description
The testing of high-resolution ADCs based on the majority of standardized methods requires pure sine-wave test signal. The reason of the requirement for signal's purity is that measured ADC parameters are potentially influenced by test signal imperfections such as distortion and wideband noise but also its short term frequency changes (phase noise). The influence of signal distortion and noise has already been the subject of many contributions; an analysis of phase noise, its effect on test results andpossibilities of its suppression or correction are the subject of this paper. The validity of phase noise analysis and of proposed methods is also demonstrated on experimental measurements.
Czech name
Vliv fázového šumu testovacího signálu při testování AČ převodníků s vysokým rozlišením
Czech description
Většina standardizovaných metod pro měření dynamických parametrů AČ převodníků vyžaduje sinusový testovací signál. Jeho případné nedokonalosti (nejen zkreslení a širokopásmový šum, ale i krátkodobá frekvenční nestabilita) mohou významně ovlivnit výsledkytěchto měření. Zatímco vliv zkreslení a širokopásmového šumu byl námětem řady předchozích příspěvků, je zde analyzován vliv fázového šumu a možnosti jeho potlačení popř. korekce. Výsledky analýzy a navržených metod byly potvrzeny řadou experimentů.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
IMTC/2007 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings
ISBN
978-1-4244-0588-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
IEEE
Place of publication
Warsaw
Event location
Warsaw
Event date
May 1, 2007
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—