Contactless microwave sensor fo measurement small thickness differences of reflective layers
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F12%3A00172355" target="_blank" >RIV/68407700:21230/12:00172355 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pta.det?pskup=1&propv=2010&pcipv=529" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pta.det?pskup=1&propv=2010&pcipv=529</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Bezkontaktní mikrovlnný měřič malých diferencí tloušťek reflexních vrstev
Original language description
Bezkontaktní mikrovlnný interferometrický měřič malých diferencí tloušťek reflexních vrstev
Czech name
Bezkontaktní mikrovlnný měřič malých diferencí tloušťek reflexních vrstev
Czech description
Bezkontaktní mikrovlnný interferometrický měřič malých diferencí tloušťek reflexních vrstev
Classification
Type
P - Patent
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2012
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Patent/design ID
303181
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
Apr 4, 2012
Owner name
České vysoké učení technické v Praze Fakulta elektrotechnická, Praha 6, CZ
Method of use
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence