Characterization and optimization of electric impedance etalons
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F16%3A00308626" target="_blank" >RIV/68407700:21230/16:00308626 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Charakterizace a optimalizace etalonů elektrické impedance s vypočitatelnou kmitočtovou závislostí pomocí numerických modelů a identifikace chyb. Cílem je umožnit realizaci primární metrologické návaznosti etalonů impedance na kvantové etalony na nejvyšší metrologické úrovni do kmitočtu jednotek MHz pro verifikaci měřicích metod používaných ve světových metrologických laboratořích.
Original language description
Charakterizace a optimalizace etalonů elektrické impedance s vypočitatelnou kmitočtovou závislostí, je důležitým krokem pro realizaci primární metrologické návaznosti etalonů impedance na kvantové etalony na nejvyšší metrologické úrovni. Snahou je v budoucnu pro návrh takovýchto etalonů s vypočitatelnou kmitočtovou závislostí využít numerických metod a simulačních programů za účelem zpřesnění a zrychlení návrhu. A to zejména pro komplikované případy složitých geometrií, jejichž vlastnosti nelze analytickými výpočty dostatečně identifikovat. Numerické modely mají ovšem také omezenou přesnost výpočtů, proto je nutné vhodně rozdělit modelovaný etalon na části, jejichž elektrické parametry lze samostatně a s dostatečnou přesností identifikovat analyticky a dále na části, které je nezbytné identifikovat numerickým modelováním při zachování celkové požadované přesnosti modelace. Jedná se tedy celkově o komplexní úlohu, přičemž řada výpočtů je prováděna na hraně definičního oboru a je nutné najít způsob ověření přesnosti jednotlivých kalkulusů.
Czech name
Charakterizace a optimalizace etalonů elektrické impedance s vypočitatelnou kmitočtovou závislostí pomocí numerických modelů a identifikace chyb. Cílem je umožnit realizaci primární metrologické návaznosti etalonů impedance na kvantové etalony na nejvyšší metrologické úrovni do kmitočtu jednotek MHz pro verifikaci měřicích metod používaných ve světových metrologických laboratořích.
Czech description
Charakterizace a optimalizace etalonů elektrické impedance s vypočitatelnou kmitočtovou závislostí, je důležitým krokem pro realizaci primární metrologické návaznosti etalonů impedance na kvantové etalony na nejvyšší metrologické úrovni. Snahou je v budoucnu pro návrh takovýchto etalonů s vypočitatelnou kmitočtovou závislostí využít numerických metod a simulačních programů za účelem zpřesnění a zrychlení návrhu. A to zejména pro komplikované případy složitých geometrií, jejichž vlastnosti nelze analytickými výpočty dostatečně identifikovat. Numerické modely mají ovšem také omezenou přesnost výpočtů, proto je nutné vhodně rozdělit modelovaný etalon na části, jejichž elektrické parametry lze samostatně a s dostatečnou přesností identifikovat analyticky a dále na části, které je nezbytné identifikovat numerickým modelováním při zachování celkové požadované přesnosti modelace. Jedná se tedy celkově o komplexní úlohu, přičemž řada výpočtů je prováděna na hraně definičního oboru a je nutné najít způsob ověření přesnosti jednotlivých kalkulusů.
Classification
Type
V<sub>souhrn</sub> - Summary research report
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Others
Publication year
2016
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Number of pages
2
Place of publication
Praha
Publisher/client name
Český metrologický institut
Version
—