Modelováním poruch ke spolehlivým architekturám FPGA

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F13%3A00207813" target="_blank" >RIV/68407700:21240/13:00207813 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Modelováním poruch ke spolehlivým architekturám FPGA

Original language description

Zařízení na bázi obvodů FPGA jsou stále častěji používána v aplikacích, které vyžadují vysokou úroveň spolehlivosti. Obvody FPGA jsou ale většinou založeny na technologii CMOS využívající paměťové buňky SRAM, které jsou náchylné k poruchám prostředí umožňujícího modelovat chování vybraného obvodu FPGA vystavenému ionizujícímu záření. Toto stimulační prostředí je založeno na akademickém souboru programů VTR a chování modelu je kalibrováno výsledky radiačních testů prováděných na reálných obvodech FPGA. Navržené simulační prostředí je možné využívat k vyhodnocování dopadu různých spolehlivostních metod na chování obvodů, ale také k navrhování změn v samotných architekturách FPGA.

Czech name

—

Czech description

—

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JC - Computer hardware and software

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Publication year

2013

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Počítačové architektury a diagnostika - PAD 2013

ISBN

978-80-261-0270-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

6

Pages from-to

117-122

Publisher name

Západočeská universita, Fakulta aplikovaných věd

Place of publication

Plzeň

Event location

Teplá

Event date

Sep 9, 2013

Type of event by nationality

EUR - Evropská akce

UT code for WoS article

—