Influence on Cell Performance of Bulk Defect Density on Microcrystalline Silicon Grown by VHF PECVD

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F06%3A04127146" target="_blank" >RIV/68407700:21340/06:04127146 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Influence on Cell Performance of Bulk Defect Density on Microcrystalline Silicon Grown by VHF PECVD
Original language description
The performance of the microcrystalline silicon grown by VHF PECVD was investigated.
Czech name
Vliv hustoty defektů na vlastnosti článku z mikrokrystalického křemíku rostlého VHF PECVD
Czech description
Byly studovány vlastnosti mikrokrystalického křemíku připraveného metodou VHF PECVD.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—

Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Result description