Multilayer detection instrument based on semiconductor radiation detectors for in-situ characterization of cosmic radiation

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F19%3A00334363" target="_blank" >RIV/68407700:21340/19:00334363 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0032/uv032845.pdf" target="_blank" >https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0032/uv032845.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Vícevrstvé detekční zařízení na bázi polovodičových detektorů záření pro in - situ charakterizaci kosmického záření
Original language description
Užitný vzor se týká technického řešení detekčního zařízení pro dozimetrické aplikace na orbitě Země a v meziplanetárním prostoru.
Czech name
Vícevrstvé detekční zařízení na bázi polovodičových detektorů záření pro in - situ charakterizaci kosmického záření
Czech description
Užitný vzor se týká technického řešení detekčního zařízení pro dozimetrické aplikace na orbitě Země a v meziplanetárním prostoru.

Project
<a href="/en/project/TJ01000200" target="_blank" >TJ01000200: Detection ASIC for orbital cosmic radiation measurement</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2019
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Patent/design ID
32845
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
—
Owner name
České vysoké učení technické v Praze, Praha 6, Dejvice, CZ; esc Aerospace s.r.o., Praha 8, Libeň, CZ
Method of use
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Similar results(10)