Surface scanning with microwave mircoscope

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28110%2F05%3A63504074" target="_blank" >RIV/70883521:28110/05:63504074 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Snímání povrchu pomocí mikrovlnného mikroskopu
Original language description
Cílem práce bylo naměřit rezonanční křivky koaxiálního rezonátoru při skenování vodivého reliéfu a vytvořit z nich obraz povrchu. Rezonanční charakteristiky byly měřeny spektrálním analyzátorem FSH3 od firmy Rohde&Schwarz. Pro vyhodnocení naměřených datbyly vytvořeny programy v programovém prostředí MATLAB. Pro ověření funkčnosti výše uvedené laboratorní sestavy mikrovlnného mikroskopu bylo provedeno několik zkušebních měření a následné vytvoření obrazů.
Czech name
Snímání povrchu pomocí mikrovlnného mikroskopu
Czech description
Cílem práce bylo naměřit rezonanční křivky koaxiálního rezonátoru při skenování vodivého reliéfu a vytvořit z nich obraz povrchu. Rezonanční charakteristiky byly měřeny spektrálním analyzátorem FSH3 od firmy Rohde&Schwarz. Pro vyhodnocení naměřených datbyly vytvořeny programy v programovém prostředí MATLAB. Pro ověření funkčnosti výše uvedené laboratorní sestavy mikrovlnného mikroskopu bylo provedeno několik zkušebních měření a následné vytvoření obrazů.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JR - Other machinery industry
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/GA202%2F03%2F0789" target="_blank" >GA202/03/0789: New silicon nanomaterials for optoelectronics</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)