Možnosti detekce padělků elektronických součástek
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F11%3A43866658" target="_blank" >RIV/70883521:28140/11:43866658 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Možnosti detekce padělků elektronických součástek
Original language description
Metody testování původnosti elektronických součástek můžeme rozdělit na destruktivní a nedestruktivní. Destruktivní metody vyžadují speciální zařízení, například pro otevření pouzdra součástek, aby bylo možné zjistit, zda obvodový systém součástky svým původem a zaměřením odpovídá označení pouzdra součástky. Nedestruktivní metody mohou zahrnovat nákladná zařízení pro analýzu, jako jsou speciální rentgeny, ultrazvukové mikroskopy a další. Pro většinu těchto metod je nezbytný referenční vzorek originálnísoučástky, aby bylo možné zjišťovat odlišnosti porovnáním. Pro předběžnou identifikaci podezřelých součástí však mnohdy postačí i jednodušší a cenově dostupnější metody. Mezi takové metody patří analýza popisu součásti včetně loga výrobce, kterou lze provádět vizuálně nebo s pomocí jednodušších optických pomůcek. Dále je to analýza průvodní dokumentace, rozměrových a tvarových parametrů pouzdra, povrchové struktury pouzdra i vývodů apod. Kombinace vzhledové analýzy s dostupnou metodou an
Czech name
Možnosti detekce padělků elektronických součástek
Czech description
Metody testování původnosti elektronických součástek můžeme rozdělit na destruktivní a nedestruktivní. Destruktivní metody vyžadují speciální zařízení, například pro otevření pouzdra součástek, aby bylo možné zjistit, zda obvodový systém součástky svým původem a zaměřením odpovídá označení pouzdra součástky. Nedestruktivní metody mohou zahrnovat nákladná zařízení pro analýzu, jako jsou speciální rentgeny, ultrazvukové mikroskopy a další. Pro většinu těchto metod je nezbytný referenční vzorek originálnísoučástky, aby bylo možné zjišťovat odlišnosti porovnáním. Pro předběžnou identifikaci podezřelých součástí však mnohdy postačí i jednodušší a cenově dostupnější metody. Mezi takové metody patří analýza popisu součásti včetně loga výrobce, kterou lze provádět vizuálně nebo s pomocí jednodušších optických pomůcek. Dále je to analýza průvodní dokumentace, rozměrových a tvarových parametrů pouzdra, povrchové struktury pouzdra i vývodů apod. Kombinace vzhledové analýzy s dostupnou metodou an
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/ED2.1.00%2F03.0089" target="_blank" >ED2.1.00/03.0089: The Centre of Security, Information and Advanced Technologies (CEBIA-Tech)</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2011
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
DPS Plošné spoje od A do Z
ISSN
1804-4891
e-ISSN
—
Volume of the periodical
2011
Issue of the periodical within the volume
9
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
2
Pages from-to
84-85
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—