Filters
XPS analysis of valves VGB
XPS analysis of valve seats including ion etching and simple concentration profiles...
CI - Průmyslová chemie a chemické inženýrství
- 2016 •
- Vsouhrn
Rok uplatnění
Vsouhrn - Souhrnná výzkumná zpráva
Application of XPS to Deposit Analysis
Application of XPS to Deposit Analysis for combustion chamber of waste incinerators, analysis of materials degradation...
CI - Průmyslová chemie a chemické inženýrství
- 2005 •
- O
Rok uplatnění
O - Ostatní výsledky
XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation
We have studied different polyethylene surfaces by XPS and XAES and line shape analysis under electron irradiation.
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2009 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
The analysis of corrosion layers by XPS - possibilities and limitations
The analysis of corrosion layers by XPS - possibilities and limitations...
JK - Koroze a povrchové úpravy materiálu
- 2005 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
XPS measurements of samples
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) measurements of samples with ion odprašováním, chemical mapping...
CB - Analytická chemie, separace
- 2016 •
- Vsouhrn
Rok uplatnění
Vsouhrn - Souhrnná výzkumná zpráva
Avoiding common errors in X-ray photoelectron spectroscopy data collection and analysis, and properly reporting instrument parameters
on X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), difficulties with data acquisition, analysis, and reporting persist. This work focuses on common errors in XPS covers: (i) XPS data collection, initial data analysis<...
Chemical sciences
- 2024 •
- Jimp •
- Link
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
In-situ analysis of PMPSI by spectroscopic ellipsometry and XPS
Degradation of PMPSi under teperature and UV light uder UHV conditions studied by XPS and spectroscopic ellipsometry.
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2003 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Analysis of Surface Corrosion Layers by XPS - Possibilities and Limits
Analysis of detection limit determination of XPS method for industry application is presented. Some examples are showed, determination of concentration profile of passive layer and measurement of layers which are deposed on outer su...
CI - Průmyslová chemie a chemické inženýrství
- 2005 •
- O
Rok uplatnění
O - Ostatní výsledky
XPS as an advanced method for analysis of organic materials
present technological challenges in XPS analysis of AAs and cells (geobacter, Algae temperatures. The detailed XPS analysis of C 1s, O 1s, N 1s and S 2p peaks was discussedXPS is known as a surface-sensit...
Physical chemistry
- 2020 •
- O
Rok uplatnění
O - Ostatní výsledky
CNx films created by combined laser deposition and RF discharge - XPS, FTIR and Raman analysis
CNx films created by combined laser deposition and RF discharge - XPS, FTIR and Raman analysis...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2000 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
- 1 - 10 out of 200 563