Interferenční mikroskopie s rtg. laserem pro pokročilé studium poškozování optických povrchů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F07%3A00090020" target="_blank" >RIV/68378271:_____/07:00090020 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray laser interference microscopy for advanced studies of laser-induced damages

Popis výsledku v původním jazyce

We show result obtained using XUV interference microscopy to observe in situ nanometer-scale modifications of optical surfaces exposed to intense sub-ns laser pulses.

Název v anglickém jazyce

X-ray laser interference microscopy for advanced studies of laser-induced damages

Popis výsledku anglicky

We show result obtained using XUV interference microscopy to observe in situ nanometer-scale modifications of optical surfaces exposed to intense sub-ns laser pulses.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

X-Ray lasers 2006

ISBN

978-1-4020-6017-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

571-576

Název nakladatele

Springer-Verlag

Místo vydání

Dordrecht

Místo konání akce

Berlin

Datum konání akce

21. 8. 2006

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—