Noise sources in semiconductor materials and devices
Public support
Provider
Czech Science Foundation
Programme
Standard projects
Call for proposals
Standardní projekty 8 (SGA02005GA-ST)
Main participants
—
Contest type
VS - Public tender
Contract ID
102/05/2095
Alternative language
Project name in Czech
Zdroje šumu v polovodičových materiálech a součástkách
Annotation in Czech
Záměrem tohoto projektu je určit zdroje nízkofrekvenčního šumu ve sledovaných materiálech a součástkách a dále stanovit zda zdrojem sumu 1/f jsou fluktuace počtu nosičů náboje, nebo jejich pohyblivosti. Experimentální studium bude provedeno pro 1. makroskopické vzorky s velkým objemem aktivní oblasti - na krystalických CdTe detektorech, 2. submikronových vzorcích MOSFET a HEMT, 3. na nově vyvíjených InGaAs kvantových tečkách. Tyto nanosoučástky mají ve svém aktivním objemu nízký počet nosičů a proto lzepředpokládat, že v důsledku interakce nosičů s mřížkou bude generována významná složka 1/f šumu. Současně bude možné posoudit vliv elektronového plynu nízké dimenze na tento sum. Tak budou získány významné experimentální výsledky o zdrojích šumu a závislosti šumové spektrální hustoty na charakteristických veličinách elektronového plynu, jako je střední volná dráha nosičů, pohyblivost, závislost na teplotě, osvětlení a intenzitě elektrického pole. Tento výzkum tak přispěje k hlubšímu poznání
Scientific branches
R&D category
ZV - Basic research
CEP classification - main branch
BM - Solid-state physics and magnetism
CEP - secondary branch
JA - Electronics and optoelectronics
CEP - another secondary branch
—
OECD FORD - equivalent branches <br>(according to the <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">converter</a>)
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>20201 - Electrical and electronic engineering
Completed project evaluation
Provider evaluation
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Project results evaluation
The objective of this project was to determine the origin of low-frequency noise in MOS structures and sensors of electromagnetic and corpuscular radiation based on CdTe. Experiments were performed for: 1. macroscopic devices with large active volume - C
Solution timeline
Realization period - beginning
Jan 1, 2005
Realization period - end
Dec 31, 2007
Project status
U - Finished project
Latest support payment
May 2, 2007
Data delivery to CEP
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data delivery code
CEP08-GA0-GA-U/04:3
Data delivery date
Dec 16, 2008
Finance
Total approved costs
1,997 thou. CZK
Public financial support
1,997 thou. CZK
Other public sources
0 thou. CZK
Non public and foreign sources
0 thou. CZK