All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Noise sources in semiconductor materials and devices

Public support

  • Provider

    Czech Science Foundation

  • Programme

    Standard projects

  • Call for proposals

    Standardní projekty 8 (SGA02005GA-ST)

  • Main participants

  • Contest type

    VS - Public tender

  • Contract ID

    102/05/2095

Alternative language

  • Project name in Czech

    Zdroje šumu v polovodičových materiálech a součástkách

  • Annotation in Czech

    Záměrem tohoto projektu je určit zdroje nízkofrekvenčního šumu ve sledovaných materiálech a součástkách a dále stanovit zda zdrojem sumu 1/f jsou fluktuace počtu nosičů náboje, nebo jejich pohyblivosti. Experimentální studium bude provedeno pro 1. makroskopické vzorky s velkým objemem aktivní oblasti - na krystalických CdTe detektorech, 2. submikronových vzorcích MOSFET a HEMT, 3. na nově vyvíjených InGaAs kvantových tečkách. Tyto nanosoučástky mají ve svém aktivním objemu nízký počet nosičů a proto lzepředpokládat, že v důsledku interakce nosičů s mřížkou bude generována významná složka 1/f šumu. Současně bude možné posoudit vliv elektronového plynu nízké dimenze na tento sum. Tak budou získány významné experimentální výsledky o zdrojích šumu a závislosti šumové spektrální hustoty na charakteristických veličinách elektronového plynu, jako je střední volná dráha nosičů, pohyblivost, závislost na teplotě, osvětlení a intenzitě elektrického pole. Tento výzkum tak přispěje k hlubšímu poznání

Scientific branches

  • R&D category

    ZV - Basic research

  • CEP classification - main branch

    BM - Solid-state physics and magnetism

  • CEP - secondary branch

    JA - Electronics and optoelectronics

  • CEP - another secondary branch

  • OECD FORD - equivalent branches <br>(according to the <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">converter</a>)

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>20201 - Electrical and electronic engineering

Completed project evaluation

  • Provider evaluation

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Project results evaluation

    The objective of this project was to determine the origin of low-frequency noise in MOS structures and sensors of electromagnetic and corpuscular radiation based on CdTe. Experiments were performed for: 1. macroscopic devices with large active volume - C

Solution timeline

  • Realization period - beginning

    Jan 1, 2005

  • Realization period - end

    Dec 31, 2007

  • Project status

    U - Finished project

  • Latest support payment

    May 2, 2007

Data delivery to CEP

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Data delivery code

    CEP08-GA0-GA-U/04:3

  • Data delivery date

    Dec 16, 2008

Finance

  • Total approved costs

    1,997 thou. CZK

  • Public financial support

    1,997 thou. CZK

  • Other public sources

    0 thou. CZK

  • Non public and foreign sources

    0 thou. CZK